红外线膜厚计需要根据测量对象物选定机种、干涉滤波器和检测器等部件。为此需要丰富的知识和经验,通过上述选定,可以测量以往不能测量的对象物。此外,测量的范围也不仅仅是厚度,任何与产品物质的量有关的性能理论上都可以通过建立相关性来测量。
红外线膜厚仪的部件性能日益提高,并不断提供新产品,与微处理器技术革新同步前进。最近不仅仅是有机被覆磷酸、连硅酮(SiO2)和氧化铝(Al2O3)等无机氧化物、金属上的涂层、膜上的蒸镀膜也可以通过材料组合测量了。
今后也将密切和各位用户进行合作并交换信息,进一步提高这些装置的性能和功能,根据目的提供新机种,继续扩大在各领域的用途。
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用
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